混合IC測試系統(tǒng)有效降低測試成本

更新時間：2025-06-30

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credence推出的sapphire d-10是為滿足消費電子產(chǎn)品市場的低成本測試需求而設(shè)計的混合信號ic測試系統(tǒng)。sapphire d-10是一個高產(chǎn)能、多功能的圓片和封裝測試解決方案，該方案是為微控制器、無線基帶、顯示驅(qū)動器和消費類混合信號器件的低成本測試解決方案而特別設(shè)計的。它具有集成度高、體積小、模塊化、較高的并行測試能力等特點。緊湊、高集成的設(shè)計平衡成本和性能——sapphire d-10體積小巧，比一臺中型個人電腦大不了多少，它不需要任何復雜的固定器械和環(huán)境設(shè)施，把它支起來，插上電源就能馬上使用，因而具有很好的便攜性，同一平臺既能應用于桌面的調(diào)試開發(fā)和特性分析，也能應用于量產(chǎn)測試。sapphire d-10含有高密度和高效的數(shù)字、模擬和電源通道。它支持768個數(shù)字通道和16個電源通道。同時其集成的混和信號技術(shù)在同一儀器上就能提供應對高精度和高頻率的方法。對于大范圍的產(chǎn)品測試來說，一個寬頻、高效的設(shè)備能有效降低測試成本。在多種芯片需要同時被測試的情況下，采用一款這樣的系統(tǒng)能大大節(jié)省用戶的測試成本。高密度數(shù)字儀器、多頻段混和信號儀器也使得測試系統(tǒng)的配置簡化，因為需要更少的儀器來達到需要的測試能力。高集成的設(shè)備也更簡化了負載板、docking接口和manipulator接口的設(shè)計。高集成度同時也能大幅減少設(shè)計時需要的元件，最終降低測試平臺的成本。而且，更少的元件意味著更高的穩(wěn)定性和更短的停機時間，從而進一步降低客戶總的測試成本。并行測試能力加速高量產(chǎn)測試——并行測試是通過同時測試多個芯片來降低測試成本的有效方法。sapphire d-10最多能進行256個芯片同測。而且非常適合多site圓片測試，因為它能提供768個200mbps的數(shù)字通道和高集成度的模擬和數(shù)?；旌蟽x器。許多傳統(tǒng)的測試系統(tǒng)在測試數(shù)字器件時能提供較高的并行效率，但測試模擬和混合信號器件時會大大降低。這通常是由于本地或遠程的大量的數(shù)據(jù)傳送處理而造成的。sapphire d-10的交換式數(shù)據(jù)傳輸（switched data link）專為解決這個問題而設(shè)計，它能快速地傳送大的數(shù)據(jù)包，并高效地進行處理。采用業(yè)界標準的模塊化架構(gòu)具有很大靈活性——可再配置的sapphire d-10測試系統(tǒng)能靈活應對多種類產(chǎn)品測試，優(yōu)化使用工廠或?qū)嶒炇铱臻g。擁有十個可互換的儀器插槽，開放式結(jié)構(gòu)支持即插即用(plug and play)以及通用插槽功能，使得從工程應用到產(chǎn)品并行測試或從數(shù)字到混和信號應用非常易于拓展。該系統(tǒng)的儀器都兼容cpci 背板協(xié)議，因而具有很大的靈活性?；谶@個開放式的架構(gòu)，用戶能方便使用第三方成熟儀器定制自己的配置，進一步拓展了平臺的靈活性和生命周期。同時，用戶可通過集成自定制儀器到平臺中來實現(xiàn)一些特殊功能和特性分析測試的需求。此外，sapphire d-10具有高速的底層數(shù)據(jù)交換網(wǎng)絡，使數(shù)據(jù)能夠以500m字節(jié)/秒的速度在整個系統(tǒng)內(nèi)傳輸，同時又不明顯增加主機負擔。sapphire d-10還有一整套為測試程序開發(fā)、調(diào)試、產(chǎn)品特性分析以及量產(chǎn)而設(shè)計的專用軟件。它的軟件采用開放式結(jié)構(gòu)，很容易訪問底層代碼，方便自定制程序編寫。d-10有自帶的產(chǎn)品測試界面，但同時也允許客戶和現(xiàn)場人員設(shè)計自己的界面，在工廠進行無縫連接。

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